National Instruments PXIe-5450 信号发生器

Description

National Instruments（NI）PXIe-5450 400 MS/s I/Q Signal Generator 是一款高性能的双通道、差分 I/Q 信号发生器，专为通信、雷达、电子战等领域的复杂信号生成需求设计。以下是该产品的核心参数和特性：

核心参数

1. 采样率：400 MS/s（每通道），支持高分辨率信号生成。
2. 分辨率：16 位，提供高动态范围和低噪声性能。
3. 无杂散动态范围（SFDR）：
   • 1 MHz 时达到 98 dB（无谐波）。
   • 包括谐波时，在 60 MHz 宽带下达到 70 dB。
4. 模拟带宽：145 MHz，可生成最高 290 MHz 带宽的射频信号。
5. 通道间偏斜：<25 ps，确保多通道信号的严格同步。
6. 相位噪声：10 MHz 载波（1 kHz 偏移）时优于 -140 dBc/Hz。
7. 输出幅度：1 Vpk-pk，支持 2 个 PXI 插槽。

关键特性

1. 双通道差分 I/Q 信号生成：
   • 支持复杂调制信号（如 QAM、OFDM）的生成，适用于通信系统测试。
2. 板载信号处理（OSP）：
   • 包括脉冲整形、插值滤波、增益和偏移控制，以及数控振荡器（NCO）用于频率偏移。
3. 高级同步与数据流：
   • 支持 NI 同步和内存核心（SMC）架构，可与其他 PXI 仪器（如矢量信号分析仪、高速数字化仪）同步。
   • 主机数据流速率 >600 MB/s，板载内存 128 或 512 MB。
4. 自校准功能：
   • 支持增益和通道对齐的自校准，以及偏移校正，外部校准周期为 1 年。
5. 兼容性与扩展性：
   • 支持 LabVIEW、LabWindows/CVI、Measurement Studio 等软件平台。
   • 提供 NI-FGEN 驱动、NI Modulation Toolkit 等工具包，便于集成和自动化测试。

应用领域

• 通信系统测试：验证 I/Q 调制解调器、射频收发器等设备的性能。
• 雷达与电子战：生成复杂调制信号，模拟真实电磁环境。
• 半导体测试：用于芯片级和系统级测试，确保信号完整性和动态范围。
• 原型开发与验证：加速通信、雷达等系统的研发周期。

技术优势

• 高动态范围：98 dB SFDR 确保信号纯净度，适用于高精度测试。
• 低相位噪声：优于 -140 dBc/Hz 的相位噪声密度，满足高频信号生成需求。
• 灵活的信号生成：支持任意波形生成（AWG）和标准调制格式，适应多样化测试场景。

市场定位

NI PXIe-5450 是一款高端信号发生器，适用于对信号质量、动态范围和同步性能有严格要求的测试场景。其双通道差分 I/Q 架构和 400 MS/s 采样率使其在通信、雷达和电子战领域具有显著优势。