HONEYWELL 05704-A-0145

Description

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标准的镀金化学成分是氢基的，会导致不锈钢氢脆。氢脆严重影响金属圆顶的工作周期寿命。在我进行的控制测试中，氢脆使金属圆顶的循环寿命缩短了90%。幸运的是，镀金化学和工艺的正确选择完全消除了我们的镀金不锈钢圆顶上的氢脆。

在不了解正确的化学和工艺选择的情况下盲目指定镀金圆顶是一场灾难。我的经验表明，大多数键盘应用设计人员没有意识到氧化铬问题或潜在的循环寿命问题，很少有客户执行生命周期测试来验证其规格和设计。

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对键盘高可靠性产生不利影响的第三个因素是超过开关接触面的电气额定值。薄型键盘适用于逻辑级电路。开关负载中过大的开路电压、过大的闭路电流或电抗组件(如电感器或电容器)会迅速损坏开关表面。

一旦开关表面因超过电气额定值而损坏，就会出现开关性能问题，如开关操作间歇、闭合或断开时触点长时间跳动以及高电阻等，并且这些问题是不可逆的。尽管这一因素在三个因素中排在最后讨论，但这一因素的问题超过了对键盘高可靠性产生不利影响的所有其他因素。

当切换高压大电流或无功负载时，必须通过固态继电器或电子缓冲将负载与键盘的开关表面隔离。设计师不会超出其他电子部件的额定值，键盘也不应有任何不同。