HONEYWELL 51403698-100

Description

HONEYWELL 51403698-100

LIB制造商试图通过内部测试来寻找这些缺陷，从而限制有缺陷电池的数量。因此，拥有一种测量电极均匀性的方法有助于尽早发现缺陷。

在光学厚度测量方法出现之前，涂层是通过在表面上拖动非常灵敏的触针来测量的。这些轮廓仪可以测量厚度，但触针必须物理接触涂层，可能会损坏涂层。

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霍尼韦尔的LIB光学测径传感器提供厚度和均匀性，并采用非接触测量方法。

与仅使用一种波长光的激光厚度传感器不同，LIB光学厚度传感器在彩色共焦排列中使用多种波长。激光厚度传感器可以被反射表面欺骗，例如某些LIBs中使用的箔片。激光也可能被一些电极中使用的扩散材料欺骗，例如非常暗的黑色物质。彩色共焦传感器对这些问题不太敏感。

霍尼韦尔LIB光学卡尺传感器可与霍尼韦尔的其他产品集成，如ControlEdge可编程逻辑控制器(PLC)、QCS 4.0远程监控解决方案等。它还包括LIB行业中的一些第三方OEM。